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262c007994
3 changed files with 268 additions and 1 deletions
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@ -7,6 +7,53 @@ defaults:
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Cin: $C_{in}$
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plots:
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- loadtype: multicsv
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load:
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47M Rev. 1: V1_Measurements/bandwidth_47M.csv
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47M Rev. 2: V1_Measurements/V1.1-a1/47M_cap/bandwidth.csv
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data_processing_steps:
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- normalize_bandwidth
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ylabel: Normalisierte Verstärkung (dB)
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load_values: ["Frequency (Hz)","Channel 1 Magnitude (dB)"]
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type: lt_sweep
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colourmap: default
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x_key: Frequency (Hz)
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y_key: "Channel 1 Magnitude (dB)"
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xmin: 100
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xmax: 1000000
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ymin: -25
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ofile: V1_Measurements/revision_compare_bandwidth.png
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- loadtype: multicsv
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load:
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47M Rev. 1: V1_Measurements/noise_47M.csv
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47M Rev. 2: V1_Measurements/V1.1-a1/47M_cap/noise.csv
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ylabel: Rauschlevel ($V/\sqrt{Hz}$)
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load_values: ["Frequency (Hz)","Trace 1 (VHz)"]
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type: lt_sweep
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colourmap: default
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x_key: Frequency (Hz)
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y_key: "Trace 1 (VHz)"
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xmin: 500
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# xmax: 1000000
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ymin: 0
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ymax: 0.00004
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yformatter: engineering
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yplaces: 2
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ofile: V1_Measurements/revision_compare_noise.png
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- loadtype: multicsv
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load:
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20M: V1_Measurements/V1.1-a1/20M/noise.csv
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@ -32,6 +79,31 @@ plots:
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yplaces: 2
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ofile: V1_Measurements/V1.1-a1/noises.png
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- loadtype: multicsv
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load:
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20M: V1_Measurements/V1.1-a1/20M/noise.csv
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47M: V1_Measurements/V1.1-a1/47M_cap/noise.csv
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||||
82M: V1_Measurements/V1.1-a1/82M/noise.csv
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120M: V1_Measurements/V1.1-a1/120M/noise.csv
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ylabel: Rauschlevel ($V/\sqrt{Hz}$)
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load_values: ["Frequency (Hz)","Trace 2 (VHz)"]
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type: lt_sweep
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colourmap: default
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x_key: Frequency (Hz)
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y_key: "Trace 2 (VHz)"
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xmin: 500
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# xmax: 10000
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ymin: 0
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ymax: 0.0001
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yformatter: engineering
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yplaces: 2
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ofile: V1_Measurements/V1.1-a1/noises_ch2.png
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- loadtype: multicsv
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load:
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20M: V1_Measurements/V1.1-a1/20M/bandwidth.csv
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@ -120,6 +120,7 @@ Es werden, wenn nicht anders beschrieben, dieselben Methoden wie aus Kapitel \re
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genutzt. Wo angemessen, sollen Vergleiche mit der vorherigen Version gezogen werden.
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\subsection{Stabilität am IMS}
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\label{chap:v11_measurement_ims_stability}
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Es wird nun als aller erstes die Stabilität an einer IMS-Röhre vermessen. Hierfür wird dieselbe
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Röhre wie in der Vermessung der ersten Revision genutzt, an den Eingang des TIVs
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@ -135,4 +136,195 @@ das Spektrum des Rauschens dieser Variante.
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\caption{\label{fig:v11_ims_noise}Rauschlevel der $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante mit angeschlossenem IMS.}
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\end{figure}
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Diese Messung bestätigt dass
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Diese Messung bestätigt, dass diese Revision der Schaltung keine Oszillationen bei Anschluss einer IMS-Röhre
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aufweist. Der Fehler der ersten Revision wurde somit erfolgreich behoben.
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\subsection{Linearität}
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In diesem Abschnitt wird die Linearität der neuen Revision vermessen. Die Messung erfolgt hierbei mit den
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gleichen Messgeräten wie in Kapitel \ref{chap:v10_measurement_linearity}, es wird jedoch durch die höhere
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Versorgungsspannung des ADA4817 ein größerer Eingangsstrombereich von \todo{Measure this} vermessen.
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\begin{figure}[h]
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\centering
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||||
\missingfigure{Measure linearity of v11}
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\caption{\label{fig:v11_linearity}Vermessung der Linearität der zweiten Revision,
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||||
$\SI{47}{\mega\ohm}$-Variante}
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||||
\end{figure}
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||||
Abbildung \ref{fig:v11_linearity} zeigt die vermessene Linearität an der
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$\SI{47}{\mega\ohm}$-Variante. \todo{Fill this out after measurement}
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\newpage
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||||
\subsection{Bandbreite}
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||||
In diesem Abschnitt werden die Übertragungsfunktionen und Bandbreiten der erstellten
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Platinen genauer untersucht.
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Es wird hierfür dieselbe Methode wie aus Kapitel \ref{chap:v10_measurement_bandwidth}
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genutzt.
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\begin{figure}[h]
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\centering
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||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/V1.1-a1/bandwidths.png}
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||||
\caption{\label{fig:v11_measurement_bandwidth}Messungen der Übertragungsfunktionen
|
||||
der Platinen der zweiten Revision.}
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||||
\end{figure}
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||||
Abbildung \ref{fig:v11_measurement_bandwidth} zeigt die gemessenen Übertragungsfunktionen
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der zweiten Platinenrevision.
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Deutlich zu erkennen ist die gewünschte glatte Übertragungsfunktion bis hin zur Eckfrequenz.
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Hiernach fallen die Verstärkungen der Platinenvarianten jedoch unterschiedlich schnell ab.
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Alle Platinen bis auf die $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante weisen einen Abfall von circa
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-20dB/Dekade auf, welcher durch das RC-Verhalten der Rückkoppelwiderstände bestimmt wird.
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||||
Die $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante weist jedoch einen Abfall von -40dB/Dekate auf, welches
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auf einen gedämpften Oszillator schließen lässt. Ebenfalls ist ein Knick in der
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||||
$\SI{82}{\mega\ohm}$ Variante bei circa $\SI{300}{\kilo\hertz}$ zu erkennen, und ein deutlicher
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Resonanz-Peak in der $\SI{120}{\mega\ohm}$ Variante bei $\SI{600}{\kilo\hertz}$.
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Diese Diskrepanzen stören das Verhalten der Übertragungsfunktion für die hier gesetzten
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||||
Zielparameter nicht, da die beobachteten Frequenzen gänzlich überhalb der Filter-Eckfrequenz
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von $\SI{30}{\kilo\hertz}$ liegen. Im Falle der $\SI{47}{\mega\ohm}$ ist der
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stärkere Abfall der Verstärkung sogar vorteilhaft.
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||||
Eine Vermutung der Ursache dieser Resonanz ist der kaskadierte Aufbau des Verstärkers selbst.
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||||
Die zweite Stufe des Verstärkers kann zu einer Phasenverschiebung führen, welches diverse
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Einflüsse auf den Frequenzverlauf der Verstärkung haben kann.
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\todo[inline]{Check with our LTSpice simulation if we see these!}
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\begin{table}[H]
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\centering
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||||
\caption{\label{table:v11_bandwidths}-3dB-Frequenzen des ungefilterten
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||||
TIV-Ausgangs der zweiten Revision}
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\begin{tabular}{ |r|r|r| }
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\hline
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||||
Widerstand & -3dB Punk \\
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||||
\hline
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||||
$\SI{20}{\mega\ohm}$ & $\SI{97.556}{\kilo\hertz}$ \\
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||||
$\SI{47}{\mega\ohm}$ & $\SI{54.747}{\kilo\hertz}$ \\
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||||
$\SI{82}{\mega\ohm}$ & $\SI{32.283}{\kilo\hertz}$ \\
|
||||
$\SI{120}{\mega\ohm}$ & $\SI{26.923}{\kilo\hertz}$ \\
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||||
\hline
|
||||
\end{tabular}
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||||
\end{table}
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||||
Tabelle \ref{table:v11_bandwidths} zeigt die -3dB-Frequenzen der gemessenen
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Übertragungsfunktionen. Im Vergleich zur ersten Revision
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bieten die $\SI{20}{\mega\ohm}$ und $\SI{47}{\mega\ohm}$ varianten der Platinen
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eine höhere Bandbreite als die Platinen der ersten Revision, während die
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||||
$\SI{120}{\mega\ohm}$ Variante eine niedrigere Bandbreite aufweist.
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||||
Diese Diskrepanz liegt vermutlich ebenfalls am beobachteten Verhalten der Kaskadenschaltung, und
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||||
ist erneut im Falle der $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante von Vorteil.
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\begin{figure}[h]
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\centering
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||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/revision_compare_bandwidth.png}
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||||
\caption{\label{fig:v11_comparison_bandwidth}Vergleich der Bandbreiten der
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||||
$\SI{47}{\mega\ohm}$ Varianten von der alten und neuen Revision.}
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||||
\end{figure}
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||||
Abbildung \ref{fig:v11_comparison_bandwidth} zeigt einen direkten Vergleich der
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Bandbreiten der TIV-Stufen der vorherigen und neuen Revison für
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die $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante. Der steilere Abfall sowie die
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leicht höhere -3dB-Frequenz der zweiten Revision
|
||||
ist hierbei deutlich zu erkennen.
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||||
Da die Filterstufe zwischen den Revisionen nicht geändert wurde,
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da das Filterverhalten bereits als ausreichend empfunden wurde, wird hier nicht
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erneut darauf eingegangen.
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Zusammengefasst besitzen die Varianten der $\SI{82}{\mega\ohm}$ und
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$\SI{120}{\mega\ohm}$ eine zu geringe Bandbreite, während
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die $\SI{47}{\mega\ohm}$ und $\SI{20}{\mega\ohm}$ Varianten beide mehr als ausreichend
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Bandbreite besitzen. Die neue Revision der Platine erfüllt somit die Anforderungen.
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\FloatBarrier
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\newpage
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\subsection{Rauschen}
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In diesem Abschnitt wird das Rauschen der neuen Revision vermessen, und mit der vorherigen
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Revision verglichen. Es wird beschrieben ob und wie sich das Rauschverhalten geändert hat.
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Das Spektrum des Rauschens wird mit dem selben Aufbau aus Kapitel \ref{chap:v10_measurement_noise}
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vermessen.
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\begin{figure}[h]
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\centering
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\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/V1.1-a1/noises.png}
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||||
\caption{\label{fig:v11_measurement_noise}Durchschnittliches Rauschspektrum der Platinen
|
||||
der zweiten Revision.}
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||||
\end{figure}
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||||
Abbildung \ref{fig:v11_measurement_noise} zeigt die Rauschspektren der zweiten
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Platinenrevision.
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Wie in der ersten Revision ist hier deutlich eine Abhängigkeit des Rauschlevels
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vom Rückkoppelwiderstand zu erkennen, wobei erneut ein kleinerer Widerstand
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ein höheres Rauschniveau einbringt.
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||||
Zusätzlich ist die Verteilung des Rauschens merklich anders. Für alle Versionen
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scheint eine kleine Erhöhung um $\SI{30}{\kilo\hertz}$ zu liegen, wobei
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diese in der $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante merklich stärker ausfällt.
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Ebenso sind Spitzen im Rauschspektrum zu erkennen. Für $\SI{20}{\mega\ohm}$
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liegt eine deutliche Spitze bei $\SI{7}{\kilo\hertz}$ vor,
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||||
für $\SI{47}{\mega\ohm}$ die Erhöhung bei $\SI{30}{\kilo\hertz}$, und für die
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||||
$\SI{120}{\mega\ohm}$ Variante eine deutliche Erhöhung bei
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||||
circa $\SI{700}{\kilo\hertz}$. Diese Eröhungen des Rauschens liegen auf den
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gleichen Frequenzen wie die Resonanzen in der Bandbreite. Somit ist zu vermuten,
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dass die gleiche Ursache für beide Effekte zuständig ist.
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\begin{figure}[H]
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\centering
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\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/revision_compare_noise.png}
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||||
\caption{\label{fig:v11_v10_comparison_noise}Vergleich des Rauschspektrums
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der Revisionen der $\SI{47}{\mega\ohm}$ Variante.}
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\end{figure}
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||||
Abbildund \ref{fig:v11_v10_comparison_noise} zeigt den direkten
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Vergleich der ungefilterten Rauschspektren der ersten und zweiten Revision
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der $\SI{47}{\mega\ohm}$ Version des Schaltkreise.
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Trotz des kleineren Eingangsspannungsrauschens des ADA4817 liegt ein
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insgesamt leicht größeres Rauschniveau vor. Dies stimmt jedoch nur bei offenem
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||||
Eingang. Das Rauschen der ersten Revision mit dem LTC6268-10 vergrößert sich bei
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steigender Eingangskapazität, während das Rauschen der zweiten Revision
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||||
kaum von der Eingangskapazität abhängt (siehe Kapitel \ref{chap:v11_measurement_ims_stability}).
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Unter realen Bedingungen ist somit das
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Rauschen der zweiten Revision besser.
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\begin{figure}[H]
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\centering
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\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/V1.1-a1/noises_ch2.png}
|
||||
\caption{\label{fig:v11_measurement_noise_ch2}Rauschspektren des
|
||||
gefilterten Ausgangs der zweiten Revision des TIVs.}
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||||
\end{figure}
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Abbildung \ref{fig:v11_measurement_noise_ch2} zeigt die Rauschspektren der
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gefilterten Ausgänge. Wie in der vorherigen Version ist zu erkennen, dass die
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Filterstufe das Rauschlevel deutlich und effektiv senkt.
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Die bereits identifizierten Erhöhungen im Rauschen werden, mit Ausnahme der
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Spitze des $\SI{20}{\mega\ohm}$ TIVs, herausgefiltert.
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Die RMS-Werte der Rauschlevel für den ungefilterten und gefilterten Ausgang
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sind in Tabelle \ref{table:v11_noise_table} aufgelistet. Dort ist deutlich
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zu erkennen, dass die Filterstufe das Rauschen merklich verringert, da der
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||||
ADA4817 mehr Rauschen in den höheren Frequenzen besitzt als der vorherig
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genutzte LTC6268-10.
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\begin{table}[H]
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||||
\centering
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||||
\caption{\label{table:v11_noise_table}AC-RMS-Spannungen des Rauschens der Platinen}
|
||||
\begin{tabular}{ |r|r|r|r| }
|
||||
\hline
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||||
Widerstand & Rauschen des
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||||
& Rauschen des & Eingangsbezogenes \\
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||||
& ungefilterten Ausgangs & gefilterten Ausgangs & Rauschen \\
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||||
\hline
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||||
$\SI{20}{\mega\ohm}$ & $\SI{20.831}{\milli\volt}$ & $\SI{6.331}{\milli\volt}$ & $\SI{6.331}{\pico\ampere}$ \\
|
||||
$\SI{47}{\mega\ohm}$ & $\SI{7.251}{\milli\volt}$ & $\SI{3.898}{\milli\volt}$ & $\SI{3.898}{\pico\ampere}$ \\
|
||||
$\SI{82}{\mega\ohm}$ & $\SI{16.853}{\milli\volt}$ & $\SI{3.270}{\milli\volt}$ & $\SI{3.270}{\pico\ampere}$ \\
|
||||
$\SI{120}{\mega\ohm}$ & $\SI{16.751}{\milli\volt}$ & $\SI{3.123}{\milli\volt}$ & $\SI{3.123}{\pico\ampere}$ \\
|
||||
\hline
|
||||
\end{tabular}
|
||||
\end{table}
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||||
Insgesamt ist somit das Rauschen der zweiten Revision des TIVs nutzbar.
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||||
Zwar ist das Rauschen im Vergleich zur ersten Revision geringfügig erhöht, jedoch
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||||
bieten alle Versionen der Schaltung mit Ausnahme des $\SI{20}{\mega\ohm}$ TIVs
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ein akzeptabel geringes Rauschen.
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@ -22,6 +22,7 @@ einige Systemparameter bestimmen zu können. Diese sind:
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\section{Messergebnisse}
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||||
\subsection{Linearität}
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\label{chap:v10_measurement_linearity}
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||||
In diesem Abschnitt wird die Linearität des erstellten
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Schaltkreises erprobt. Diese Art der Vermessung gibt an,
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||||
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@ -78,6 +79,7 @@ für den gewünschten Eingangsstrom von $\SI{\pm1}{\nano\ampere}$ liegt ein komp
|
|||
lineares Verhalten vor.
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||||
|
||||
\subsection{Bandbreite}
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||||
\label{chap:v10_measurement_bandwidth}
|
||||
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||||
In diesem Abschnitt wird die Bandbreite des Systems untersucht.
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||||
Hierbei wird sowohl die Bandbreite der TIA-Stufe ohne Filterung,
|
||||
|
@ -256,6 +258,7 @@ dass die bestehende Abschirmungsgeometrie ausreichend ist um diese Instabilität
|
|||
\newpage
|
||||
|
||||
\subsection{Rauschen}
|
||||
\label{chap:v10_measurement_noise}
|
||||
|
||||
In diesem Abschnitt wird das Rauschen des Schaltkreises genauer untersucht.
|
||||
Das Rauschverhalten ist relevant für die Signalqualität, und somit für die
|
||||
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