corrections: more
|
@ -25,23 +25,27 @@ Institut für Grundlagen der Elektrotechnik und Messtechnik
|
|||
der Leibniz Universität Hannover genutzt wird.
|
||||
Der Aufbau dieses IMS ist vergleichbar zu dem in
|
||||
\cite{Reinecke2018Oct} dargestelltem System.
|
||||
Abbildung \ref{fig:example_ims_peak} zeigt einen Peak der von einem
|
||||
solchen System gemessen wurde.
|
||||
|
||||
\begin{figure}[ht!]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/example_peak.png}
|
||||
\caption[Messung eines beispielhaften Ionen-Peaks]{
|
||||
\label{fig:example_ims_peak}
|
||||
Messung eines beispielhaften Ionen-Peaks.
|
||||
Zu erkennen ist die annähernd gaussche Verteilung
|
||||
mit einer Breite von etwa $\SI{60}{\micro\second}$.}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
Dieses System generiert Ionenpakete mit einer
|
||||
annähernd gausschen Verteilung,
|
||||
mit einer Breite von circa $\SI{1.5}{\micro\second}$
|
||||
für die kleinsten Pakete.
|
||||
Eine beispielhafte Messung eines IMS-Systemes ist in Abbildung \ref{fig:example_ims_peak} dargestellt.
|
||||
Zu sehen ist, dass dieses System Ionenpakete mit einer
|
||||
annähernd gausschen Verteilung und
|
||||
mit einer Breite von circa $\SI{35}{\micro\second}$
|
||||
für die kleinsten Pakete erzeugt.
|
||||
Um diese Pakete abbilden zu können ist eine Bandbreite von mindestens $\SI{30}{\kilo\hertz}$ notwendig.
|
||||
Die größte Peak-Amplitude, die hierbei abgebildet werden soll,
|
||||
befindet sich im Bereich von circa $\SI{1}{\nano\ampere}$.
|
||||
|
||||
\begin{figure}
|
||||
\centering
|
||||
\missingfigure{Include figure for an example IMS peak shape}
|
||||
\caption{\label{fig:example_ims_peak}Messung eines beispielhaften Ionen-Peaks}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
Der Ausgang des TIV wird einen Analog-Digital-Wandler (im folgenden ADC) antreiben. Diese Bauteile wandeln ein
|
||||
Spannungssignal in ein digitales Signal um, welches vom Rest des Systems ausgewertet werden kann. Der im Ziel-IMS ausgewählte ADC,
|
||||
der {\em LTC2274}, hat einen
|
||||
|
@ -202,7 +206,7 @@ der Eingangskapazität bei. Zudem scheint es keine großen Unterschiede bei der
|
|||
|
||||
\begin{table}[hb]
|
||||
\centering
|
||||
\caption{\label{table:para_r_cf}Ergebnisse der Kapazitätsberechnung}
|
||||
\caption{\label{table:para_r_cf}Ergebnisse der Kapazitätsberechnung aus den CST-Simulationen}
|
||||
\begin{tabular}{ |l|r|r| }
|
||||
\hline
|
||||
Typ & Parallelkapazität $C_\mathrm{p}$ & Streukapazität $C_\mathrm{g}$ \\
|
||||
|
@ -340,6 +344,7 @@ welche Elemente der Simulation zur Kapazität beitragen.
|
|||
somit die Verteilung der Kapazitäten. Deutlich zu erkennen ist die
|
||||
Konzentration der Felder um die Kontaktflächen der Widerstände herum.}
|
||||
\end{figure}
|
||||
\todo{Clip images a bit more}
|
||||
|
||||
\FloatBarrier
|
||||
|
||||
|
@ -526,7 +531,7 @@ Grenzwerte sind in Tabelle \ref{table:para_rshield_max} aufgelistet.
|
|||
|
||||
\begin{table}[ht]
|
||||
\centering
|
||||
\caption{\label{table:para_rshield_max}Obere Grenzwerte der Widerstandsauswahl mit Abschrimung}
|
||||
\caption{\label{table:para_rshield_max}Obere Grenzwerte der Widerstandsauswahl mit Abschirmelektroden}
|
||||
\begin{tabular}{ |c|r| }
|
||||
\hline
|
||||
Typ & Grenzwert \\
|
||||
|
|
|
@ -45,14 +45,13 @@ zusammen mit einigen ihrer Parameter auf.
|
|||
\hline
|
||||
OpAmp & Leckstrom & GBWP & Spannungsauschen @ $\SI{10}{\kilo\hertz}$ \\
|
||||
\hline
|
||||
ADA4530 & $\SI{20}{\femto\ampere}$ & $\SI{2}{\mega\hertz}$ & $\SI{14}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
ADA4817 & $\SI{2}{\pico\ampere}$ & $\SI{400}{\mega\hertz}$ & $\SI{5}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
LTC6268-10 & $\SI{4}{\femto\ampere}$ & $\SI{4}{\giga\hertz}$ & $\SI{14}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
LMP7721 & $\SI{20}{\femto\ampere}$ & $\SI{17}{\mega\hertz}$ & $\SI{6.5}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
ADA4530 \cite{DatasheetADA4530} & $\SI{20}{\femto\ampere}$ & $\SI{2}{\mega\hertz}$ & $\SI{14}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
ADA4817 \cite{DatasheetADA4817} & $\SI{2}{\pico\ampere}$ & $\SI{400}{\mega\hertz}$ & $\SI{5}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
LTC6268-10 \cite{DatasheetLTC626810} & $\SI{4}{\femto\ampere}$ & $\SI{4}{\giga\hertz}$ & $\SI{14}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
LMP7721 \cite{DatasheetLMP7721} & $\SI{20}{\femto\ampere}$ & $\SI{17}{\mega\hertz}$ & $\SI{6.5}{\nano\volt\per\sqrt{\hertz}}$ \\
|
||||
\hline
|
||||
\end{tabular}
|
||||
\end{table}
|
||||
\todo[inline]{Do we need to cite the Datasheets?}
|
||||
|
||||
Aus diesen OpAmps werden zwei Kandidaten genauer in Betracht gezogen.
|
||||
Der {\em ADA4817} besitzt das niedrigste Eingangsrauschen der Auswahl
|
||||
|
@ -133,7 +132,7 @@ um Oberflächenladungen und Leckströme ableiten zu können.
|
|||
|
||||
\begin{figure}[hbp]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[width=0.5\textwidth]{Auslegung/v1.0/tia_pcb.png}
|
||||
\includegraphics[width=0.8\textwidth]{Auslegung/v1.0/tia_pcb.png}
|
||||
\caption{\label{fig:tia_v1_pcb}Platinendesign der TIV-Schaltung}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
|
@ -318,9 +317,12 @@ Die einzelnen Elemente des TIV sind von links nach rechts wie folgt angeordnet:
|
|||
\begin{figure}[ht]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[width=0.95\linewidth]{Auslegung/v1.0/pcb_3d.png}
|
||||
\caption{\label{fig:v1_pcb_design}3D-Modell des gesamten TIV-Schaltkreises.}
|
||||
\caption[3D-Modell des gesamten TIV-Schaltkreises]{
|
||||
\label{fig:v1_pcb_design}
|
||||
3D-Modell des gesamten TIV-Schaltkreises.
|
||||
Überlagert ist die grundlegende Verteilung der
|
||||
Schaltungselemente eingezeichnet.}
|
||||
\end{figure}
|
||||
\todo[inline]{Add some nice overlays for the parts.}
|
||||
|
||||
Zusätzlich zu den bereits etablierten Komponenten der Schaltung werden einige
|
||||
mechanische Verbindungen zur Operation des Schaltkreises untergebracht:
|
||||
|
@ -339,8 +341,10 @@ mechanische Verbindungen zur Operation des Schaltkreises untergebracht:
|
|||
und sind somit gut geeignet für das Eingangs- und Ausgangssignal des Verstärkers.
|
||||
\end{itemize}
|
||||
|
||||
Die Plazine wird mithilfe von komerziellen Fertigungsverfahren hergestellt.
|
||||
\todo[inline]{How much of this should we write down here?}
|
||||
Die Platine wird mithilfe von komerziellen Fertigungsverfahren hergestellt,
|
||||
wobei die Bestückung der Komponenten durch die kleine Anzahl von Platinen
|
||||
mit variierten Bauteilen von Hand durchgeführt wird.
|
||||
Abbildung \ref{fig:v1_pcb_picture} zeigt ein Foto eines der erstellten Schaltkreise.
|
||||
|
||||
\begin{figure}[h]
|
||||
\centering
|
||||
|
|
|
@ -88,8 +88,15 @@ ein solches Spektrum dar.
|
|||
|
||||
\begin{figure}[h]
|
||||
\centering
|
||||
\missingfigure{IMS SPECTRUM HERE}
|
||||
\caption{\label{fig:ims_example_spectrum}Spektrum einer beispielhaften IMS-Messung}
|
||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/example_spectrum.png}
|
||||
\caption[Spektrum einer beispielhaften IMS-Messung]{
|
||||
\label{fig:ims_example_spectrum}Spektrum einer beispielhaften IMS-Messung.
|
||||
Aufgezeichnet ist die Ausgangsspannung des TIVs des IMS über die Zeit.
|
||||
Zu sehen ist der Peak des Driftgases um circa
|
||||
$\SI{5.5}{\milli\second}$ herum, sowie Peaks von Ionenpaketen
|
||||
um $\SI{8.8}{\milli\second}$, $\SI{10.5}{\milli\second}$
|
||||
und $\SI{13}{\milli\second}$.
|
||||
}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
\FloatBarrier
|
||||
|
|
|
@ -99,7 +99,7 @@ Aus diesem Grund wird hierauf nicht mehr genauer eingegangen.
|
|||
|
||||
\begin{figure}[hb]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[width=0.7\textwidth]{Auslegung/v1.1/tia_pcb.png}
|
||||
\includegraphics[width=0.8\textwidth]{Auslegung/v1.1/tia_pcb.png}
|
||||
\caption{\label{fig:v11_tia_pcb}Auslegung des PCBs der Revision
|
||||
des TIVs}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
@ -120,9 +120,7 @@ weshalb auf diese hier nicht mehr eingegangen wird.
|
|||
\caption{\label{fig:v11_pcb_3d_image}3D-Modell der Revision des PCBs}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
\FloatBarrier
|
||||
\newpage
|
||||
|
||||
\cleardoublepage
|
||||
\section{Vermessung der Revision}
|
||||
|
||||
In diesem Kapitel wird die Revision der Platine
|
||||
|
@ -517,7 +515,6 @@ den gleichen Messsystemen wie in den vorherigen Messungen (siehe Kapitel
|
|||
Stufe der Kaskade. Erkennbar ist ein starker Einfluss auf die
|
||||
Bandbreite.}
|
||||
\end{figure}
|
||||
\todo{Use ratio of amp}
|
||||
|
||||
Abbildung \ref{fig:v11_cascade_bandwidths} zeigt die Übertragungsfunktionen
|
||||
der getesteten Varianten.
|
||||
|
@ -639,6 +636,76 @@ TIV erfolgreich in einem echten IMS-System genutzt werden kann,
|
|||
und hierbei vergleichbar gute Messergebnisse liefert
|
||||
wie die bestehenden Systeme.
|
||||
|
||||
\clearpage
|
||||
\section{Erprobung einer schnellen Variante}
|
||||
|
||||
Die in Kapitel \ref{chap:tia_design_goals} festgelegten Ziele
|
||||
sind für einen bestimmten Typ von IMS geeignet. Es gibt jedoch
|
||||
andere Arten von IMS, welche schnellere Messungen benötigen, so
|
||||
z.~B. dem Hike-IMS.
|
||||
Dieses System benötigt Bandbreiten von $\SI{150}{\kilo\hertz}$, mit
|
||||
einem maximalen Eingangssignal von $\SI{10}{\nano\ampere}$.
|
||||
|
||||
Aus diesem Grund wird im folgenden eine Variante des TIV-Schaltkreises
|
||||
erprobt, welche auf diese Parameter eingestellt ist. Hierfür
|
||||
wird als Rückkoppelwiderstand ein Wert von $\SI{2.4}{\mega\ohm}$
|
||||
genutzt. Zusätzlich wird der Ausgangsfilters auf eine Grenzfrequenz
|
||||
von $\SI{150}{\kilo\hertz}$ eingestellt.
|
||||
|
||||
Vermessen werden Bandbreite und Rauschen mit den gleichen Methodiken
|
||||
wie in den vorherigen Kapiteln (vgl. Kapitel \ref{chap:v10_measurement_bandwidth}
|
||||
und Kapitel \ref{chap:v10_measurement_noise}). Abbildungen \ref{fig:v24_bandwidth}
|
||||
und \ref{fig:v24_noise} zeigen die Messwerte auf.
|
||||
|
||||
\begin{figure}[ht]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/V1.1-a1/2M4/bandwidths.png}
|
||||
\caption[Bandbreite der $\SI{2.4}{\mega\hertz}$-Variante]{
|
||||
\label{fig:v24_bandwidth}
|
||||
Bandbreite der $\SI{2.4}{\mega\hertz}$-Variante. Aufgezeichnet sind
|
||||
die Bandbreiten des ungefilteren und gefilterten Ausgangs.
|
||||
Zu erkennen ist ein flacher Frequenzgang bis circa $\SI{100}{\kilo\hertz}$,
|
||||
ab welchem eine Überhöhung der Bandbreite erkennbar ist.
|
||||
}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
Zu erkennen ist ein flacher Frequenzgang bis circa $\SI{100}{\kilo\hertz}$, mit
|
||||
einer darauf folgenden Instabilität, mit einem Peak um $\SI{500}{\kilo\hertz}$ herum.
|
||||
Diese Instabilität lässt darauf schließen, dass das GBWP der OpAmps ein limitierender
|
||||
Faktor ist, entsprechend Kapitel \ref{chap:opamp_parasitics_gbwp}.
|
||||
Der gefilterte Ausgang ist jedoch in seinem gesamten Arbeitsbereich flach, und somit nutzbar.
|
||||
|
||||
\begin{figure}[ht]
|
||||
\centering
|
||||
\includegraphics[scale=0.8]{datavis/V1_Measurements/V1.1-a1/2M4/noises.png}
|
||||
\caption[Rauschspektrum der $\SI{2.4}{\mega\hertz}$-Variante]{
|
||||
\label{fig:v24_noise}
|
||||
Rauschspektrum der $\SI{2.4}{\mega\hertz}$-Variante. Aufgezeichnet sind
|
||||
die Spektren des ungefilteren und gefilterten Ausgangs.
|
||||
Zu erkennen ist ein sehr geringes Rauschen bis hin zu
|
||||
$\SI{100}{\kilo\hertz}$, ab welchem Punkt das Rauschen stark
|
||||
ansteigt.
|
||||
}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
Das Rauschspektrum der erstellten Variante ist ebenfalls sehr gut für den
|
||||
Einsatz an einem IMS geeignet.
|
||||
Das Rauschlevel ist mit durchschnittlich $\SI{8}{\micro\volt\per\sqrt{\hertz}}$
|
||||
bis zur Filter-Grenzfrequenz sehr niedrig. Die in der Bandbreite erkennbare Instabilität ist
|
||||
ebenso im Rauschen zu erkennen, da ab $\SI{100}{\kilo\hertz}$ das Rauschen stark ansteigt.
|
||||
Dies wird jedoch effektiv vom Ausgangsfilter heraus gefiltert, und beeinträchtigt
|
||||
somit nicht die Messung.
|
||||
|
||||
Insgesamt ist die erstellte Variante sehr gut für die Nutzung an schnelleren IMS-Systemen
|
||||
geeignet, da sie ein niedriges Rauschen und stabile Bandbreite anbietet.
|
||||
Bei weiterer Feineinstellung des TIVs ist zudem zu erwarten, dass die Instabilität
|
||||
korrigiert werden kann, um noch höhere Bandbreiten bei gleicher Verstärkung erreichen
|
||||
zu können.
|
||||
|
||||
Eine Messung an einem echten IMS-System war durch technische Probleme
|
||||
unabhängig vom TIV nicht möglich.
|
||||
|
||||
\clearpage
|
||||
\section{Fazit}
|
||||
|
||||
Die Revision korrigiert erfolgreich die Instabilität, welche in der ersten Version
|
||||
|
|
|
@ -92,8 +92,6 @@ der Messung vom Sollwert.
|
|||
}
|
||||
\end{figure}
|
||||
|
||||
\pagebreak
|
||||
|
||||
Deutlich zu erkennen ist eine nutzbare lineare Abhängigkeit der Ausgangsspannung
|
||||
vom Eingangsstrom ohne starke Abweichungen vom linearen Zusammenhang.
|
||||
Es scheint ein leichter Fehler im Verstärkungsfaktor von 0.5\% vor zu liegen,
|
||||
|
@ -109,6 +107,8 @@ In Zusammenfassung ist die Linearität des Schaltkreises mehr als ausreichend un
|
|||
für den gewünschten Eingangsstrom von $\SI{\pm1}{\nano\ampere}$ liegt ein komplett
|
||||
lineares Verhalten vor.
|
||||
|
||||
\clearpage
|
||||
|
||||
\subsection[Verstärkerbandbreite]{Untersuchung der Verstärkerbandbreite}
|
||||
\label{chap:v10_measurement_bandwidth}
|
||||
|
||||
|
|
|
@ -16,9 +16,14 @@ an Bandbreite und Rauschlevel erfüllte.
|
|||
Lediglich die Stabilität des Schaltkreises führte
|
||||
zu Problemen.
|
||||
|
||||
Die Ursprünge der Instabilität wurde thematisiert, und es
|
||||
konnte in einer Revision der Schaltung die Stabilität deutlich
|
||||
verbessert werden.
|
||||
Die Ursprünge der Instabilität wurde thematisiert,
|
||||
wobei das Rauschen des verwendeten OpAmps zusammen mit
|
||||
einer möglichen Instabilität durch das GBWP vermutet wurde.
|
||||
Es konnte in einer Revision der Schaltung die Stabilität
|
||||
deutlich verbessert werden, in dem eine kaskadierte
|
||||
OpAmp-Struktur mit ausreichendem GBWP und stabilisierender
|
||||
Limitierung durch eine passend eingestellte offene Verstärkung
|
||||
entwicklet wurde.
|
||||
|
||||
Der somit erstellte Schaltkreis konnte in einer Messung
|
||||
an einem der IMS-Systeme des GEM an der Leibniz Universität
|
||||
|
@ -26,6 +31,10 @@ Hannover vermessen werden, und wurde mit den bestehenden
|
|||
Systemen verglichen. Somit konnte bestätigt werden, dass
|
||||
das neu erstellte System Messwerte mit guter Qualität liefert
|
||||
und seine Zielanforderungen erfüllt.
|
||||
Es wurde ebenfalls eine Variation des TIVs aufgebaut, welche
|
||||
mit höherer Bandbreite arbeitet und somit den erstellten
|
||||
TIV für einen breiteren Anwendungsbereich einsetzbar macht.
|
||||
|
||||
Hierbei konnte der TIV so ausgelegt werden, dass keine manuellen
|
||||
Nachjustierungen für eine korrekte Operation notwendig sind,
|
||||
und der Preis sowie die Größe des Schaltkreises konnten im
|
||||
|
|
|
@ -110,6 +110,30 @@
|
|||
url = {https://www.analog.com/media/en/technical-documentation/data-sheets/2274fb.pdf}
|
||||
}
|
||||
|
||||
@misc{DatasheetLTC626810,
|
||||
title = {{Datasheet LTC6268-10 - 4GHz Ultra-Low Bias Current FET Input Op Amp}},
|
||||
year = {2015},
|
||||
month = feb,
|
||||
note = {[Online; accessed 21th June 2024]},
|
||||
url = {https://www.analog.com/media/en/technical-documentation/data-sheets/626810f.pdf}
|
||||
}
|
||||
|
||||
@misc{DatasheetADA4817,
|
||||
title = {{Datasheet ADA4817 - Low Noise, 1 GHz FastFET Op Amps}},
|
||||
year = {2008},
|
||||
month = oct,
|
||||
note = {[Online; accessed 21th June 2024]},
|
||||
url = {https://www.analog.com/media/en/technical-documentation/data-sheets/ADA4817-1_4817-2.pdf}
|
||||
}
|
||||
|
||||
@misc{DatasheetLMP7721,
|
||||
title = {{Datasheet LMP7721 - 3-Femtoampere Input Bias Current Precision Amplifier}},
|
||||
year = {2014},
|
||||
month = dec,
|
||||
note = {[Online; accessed 21th June 2024]},
|
||||
url = {https://www.ti.com/lit/ds/symlink/lmp7721.pdf}
|
||||
}
|
||||
|
||||
@misc{SierraReduceCapacitances,
|
||||
title = {{How to reduce parasitic capacitance in PCB layout}},
|
||||
year = {2021},
|
||||
|
|
Before Width: | Height: | Size: 361 KiB After Width: | Height: | Size: 463 KiB |
6691
TeX/grafiken/Auslegung/v1.0/pcb_3d.svg
Normal file
After Width: | Height: | Size: 495 KiB |
Before Width: | Height: | Size: 308 KiB After Width: | Height: | Size: 423 KiB |
5788
TeX/grafiken/Auslegung/v1.0/tia_pcb.svg
Normal file
After Width: | Height: | Size: 426 KiB |
Before Width: | Height: | Size: 981 KiB After Width: | Height: | Size: 1.1 MiB |
17921
TeX/grafiken/Auslegung/v1.1/tia_pcb.svg
Normal file
After Width: | Height: | Size: 1.3 MiB |